M-Day 2026 mit datatec Wachsender Testbedarf in der Leistungselektronik

Quelle: datatec 1 min Lesedauer

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Am 22. April 2026 präsentiert datatec in Nürnberg auf dem M-Day Test-, Prüf- und Automatisierungslösungen für die Praxis. Schwerpunkte sind Effizienz, Netzqualität und EMV. Partner zeigen Power Hardware in the Loop, Thermografie, moderne Power-Analyseverfahren und automatisierte EMV-Messung.

Auf dem Measurement Day (M-Day) am 22. April 2026 in Nürnberg stellt datatec steigende Anforderungen an Effizienz, Netzqualität und elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) in den Fokus.(Bild:  datatec)
Auf dem Measurement Day (M-Day) am 22. April 2026 in Nürnberg stellt datatec steigende Anforderungen an Effizienz, Netzqualität und elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) in den Fokus.
(Bild: datatec)

Auf dem Measurement Day (M-Day) am 22. April 2026 in Nürnberg stellt datatec aktuelle Lösungsansätze für Anwender vor, die konkrete Test-, Prüf- und Automatisierungsanforderungen aus der Praxis mitbringen. Im Mittelpunkt stehen dabei steigende Anforderungen an Effizienz, Netzqualität und elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), die Entwickler und Industrie zunehmend unter Druck setzen.

Die Agenda kombiniert Fachvorträge, praxisnahe Anwendungsbeispiele und Live-Demonstrationen mit ausreichend Raum für den direkten Austausch mit Experten. Zum Auftakt zeigt Cinergia, als neuer Partner von datatec, wie sich mit Power Hardware in the Loop (PHIL) Echtzeitsimulation und reale Hardware zu flexiblen, skalierbaren Testumgebungen verbinden lassen. Ein Ansatz, der Entwicklungszeiten verkürzt und realitätsnahe Validierungen ermöglicht. Im Anschluss beleuchtet Flir den Einsatz von Thermografie als zerstörungsfreie Prüfmethode in der Elektronik. Keysight gibt Einblicke in moderne Power-Analyseverfahren: Von Effizienz- und Verlustleistung bis hin zur Bewertung der Netzqualität erfahren Anwender, wie sich Schaltnetzteile umfassend und reproduzierbar charakterisieren lassen inklusive automatisierter Messabläufe zur Steigerung der Effizienz im Testprozess.

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Am Nachmittag stehen AC- und DC-Lösungen für Testautomatisierung und EMV-Vorabkonformität mit TDK-Lambda im Fokus. Gezeigt wird unter anderem, wie sich IEC-Normen praktisch umsetzen lassen und wie Hochleistungs-Analogverstärker sowie moderne DC-Technologien Hochgeschwindigkeitstests unterstützen. Abschliessend demonstriert datatec praxisnah, wie sich mithilfe eines automatischen 4D-Scanners elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) direkt auf der Leiterplatte sichtbar machen lässt. Eine wertvolle Grundlage, um Störquellen frühzeitig zu identifizieren und gezielt zu beheben. Zwischen den Sessions bleibt Zeit für Networking, den fachlichen Austausch und Antworten auf individuelle Fragestellungen. Die Teilnahme ist kostenlos, allerdings ist eine Anmeldung für die begrenzte Anzahl an Plätzen erforderlich.

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